一、特點

高低溫測試機內箱材料使用SU304不銹鋼板，具有耐酸、耐腐蝕易清洗特點；

樣品架可根據(jù)需要調節(jié)上下的位置；

箱門具備大視角保溫真空鋼化玻璃，便于用戶視察樣品試驗過程；

采用優(yōu)質的門磁封條和保溫材料令整機性能更*；

具有合理的風道循環(huán)系統(tǒng)，使得箱體內溫濕度達到高均勻性；

箱體左側配有測試引線孔；

供水系統(tǒng)：采用自動補水功能，標配水箱

二、高低溫測試機性能：

指氣冷式在室溫20℃，空載時

規(guī)格型號：HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000（A、B、C、D、E）

容量：

80升內箱尺寸（寬*高*深）：400X500X400mm

150升內箱尺寸（寬*高*深）：500X600X500mm

225升內箱尺寸（寬*高*深）：600X750X500mm

408升內箱尺寸（寬*高*深）：600X850X800mm

800升內箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X800mm

1000升內箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X1000mm

溫度范圍：

A表示：0℃～+150℃，B表示：-20℃～+150℃，C表示：-40℃～+150℃，

D表示：-60℃～+150℃，E表示：-70℃～+150℃

溫度精度：±0.01℃

溫度波動度：±0.5℃

溫度均勻度：±2.0℃

濕度范圍：20%RH～98%RH

濕度精度：±0.1%R.H

濕度波動度：±2.0%R.H.

濕度均勻度：±3%R.H.

升溫速率：平均3℃/min（非線性、空載時；從常溫+25℃升至+85℃約20min）；可按要求定制非標規(guī)格

降溫速度：平均1℃/min（非線性、空載時；從常溫+25℃降至-40℃約65min）；可按要求定制非標規(guī)格

三、制冷工作原理

高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成。其過程如下：制冷劑經(jīng)壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質進行熱交換，將熱量傳給四周介質。后制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功，這時制冷劑溫度降低。最后制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復始從而達到降溫之目的。

四、制冷系統(tǒng)

1.系統(tǒng)理念：采用業(yè)界的溫度平衡技術（制冷不加熱），通過能量調節(jié)技術在降溫及低溫平衡時不需要另外啟動加熱來平衡控溫。能量調節(jié)技術即PID控制調節(jié)制冷劑流量，通過調節(jié)控制單位時間內進入蒸發(fā)器制冷劑的質量，來達到精確控制制冷功率，從而精確控制試驗室的溫度。

2.相對以前“平衡控溫方式"即邊加熱邊制冷的方法，能耗非常大。而運用此技術可在Z大限度上降低客戶的運營成本和延長壓縮機的壽命，可在產(chǎn)品壽命周期內可為用戶節(jié)約一筆不小的電費開支（因客戶實際使用頻率高低而已）

3.制冷硬件:采用“泰康"全封閉壓縮機。

4.制冷劑：采用環(huán)保制冷劑R404a，R23。

5.制冷蒸發(fā)器：采用波紋翅片制冷蒸發(fā)器，位于試驗箱一端的風道夾層內，由鼓風電機強制通風，快速換熱。

6.輔助件:本試驗箱制冷系統(tǒng)中其他輔助件，如電磁閥、過濾器等我公司也采用進口件；如采用意大利CAS的電磁閥、旁通閥等，其它配件也均選用國內品牌的制冷配件。

7.低溫管路：低溫管路采用優(yōu)質無氧銅管、充氮焊接（傳統(tǒng)方式采用普通銅管，直接焊接方式，易使銅管內壁產(chǎn)生氧化物，造成制冷系統(tǒng)堵塞，使試驗箱不降溫或降溫慢）

在制冷系統(tǒng)底部設有凝結水接水盤，并排出箱外。

8.減振：采用壓縮機膠墊或彈簧減振措施；制冷系統(tǒng)管路采用增加R和彎頭的方式避免因振動和溫度的變化引起的銅管的變型，從而造成制冷系統(tǒng)管路破裂。

9.降噪：采用波浪狀的特種消音海綿吸音。

GB/T2423.1—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》  試驗A：低溫試驗方法經(jīng)環(huán)境試驗設備質量監(jiān)督檢測中心檢測，符合“環(huán)境試驗設備技術條件"系列標準中的：

GB/T2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》  試驗B：高溫試驗方法

GB/T2423.4—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗Db：溫度變化試驗方法

GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件

GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件

GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備

GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

GJB150.3 (MIL-STD-810D)高溫試驗方法

GJB150.4（MIL-STD-810D)低溫試驗方法

GB/T10589-89 低溫試驗箱技術條件

GB/T11158-89 高溫試驗箱技術條件